減衰振動波発生器を用いた高速および低速減衰振動波の試験

抽象

その 減衰振動波発生器 電子機器の電磁両立性（EMC）を評価する上で、特に減衰振動波に対する耐性を評価する上で重要な機器です。本稿では、高速および低速の減衰振動波の試験方法について、特に以下の点に焦点を当てて考察します。 LISUN DOW61000-18 減衰振動波耐性試験装置。詳細な手順、具体的な試験パラメータ、そして試験プロセスを説明するデータ表をご提供します。

はじめに

電磁干渉（EMI）は、電子機器の信頼性と性能に重大な課題をもたらします。IEC 61000-4-18規格は、EMIの一般的な発生源である減衰振動波の試験方法を概説しています。 LISUN DOW61000-18 減衰振動波耐性試験装置は、これらの妨害に対する試験対象デバイス (DUT) の耐性を評価するために設計されています。

DOW61000 18_減衰振動波イミュニティ試験器

2. 減衰振動波発生器の概要

その DOW61000-18 電圧、周波数、波形特性を精密に制御し、減衰振動波を生成するように設計されています。国際規格に準拠しており、信頼性と再現性の高い試験条件を実現します。本試験装置は、低速減衰と高速減衰の両方のオプションを備えており、幅広い試験要件に対応します。

3. テスト方法

3.1の準備

• 校正: テスターが製造元の仕様に従って校正されていることを確認します。
• セットアップ: DUT をテスターに​​接続し、すべての接続が安全であり、安全基準を満たしていることを確認します。

3.2 テストパラメータ

次の表は、低速および高速減衰振動波テストの主なパラメータをまとめたものです。

注: 上記の仕様は、 LISUN.

3.3 テスト手順

• 構成: 電圧、周波数、パルス特性など、テスターで必要なテスト パラメータを設定します。
• 実行: テスト シーケンスを開始し、テスターが減衰振動波を生成して DUT に適用できるようにします。
• 監視: テスト中に DUT の故障や劣化の兆候がないか継続的に監視します。
• データ収集: テストフェーズ全体を通じて DUT のパフォーマンス メトリックを記録します。

4 データ分析

試験が完了したら、収集したデータを分析して、DUTの減衰振動波に対する耐性を評価します。結果を関連規格で規定された許容限度と比較し、適合性を判定します。

5. 結論

その LISUN DOW61000-18 減衰振動波イミュニティ試験装置は、電子機器の電磁両立性を評価するための包括的なソリューションを提供します。標準化された試験手順を遵守し、高精度な計測機器を使用することで、メーカーは製品が必要なイミュニティ要件を満たしていることを保証し、実環境における信頼性と性能を向上させることができます。

参考情報

IEC 61000-4-18: 電磁両立性 (EMC) – パート 4-18: 試験および測定技術 – 減衰振動波耐性試験。
LISUN DOW61000-18 製品情報： https://www.lisungroup.com/products/emi-and-emc-test-system/damped-oscillatory-wave-immunity-tester.html