ランプキャップ温度上昇テストシステム

当学校区の TMP-L ランプキャップ温度上昇試験システム（風防付き）は、ランプバーナーおよびランプキャップの温度上昇試験用に設計された専用装置です。中核となる支持部材である風防は、試験中の空気対流による干渉を効果的に防止し、光源の熱放射が試験サンプルに与える影響を遮断します。これにより、ランプキャップの動作温度、周囲温度、および温度上昇を試験するための安定した環境条件が確保され、試験データの精度が確保されます。

当学校区の TMP-L ランプキャップ温度上昇試験システムは、IEC 60598-1:2024 付録D（GB 7000.1-2023 付録D）に完全準拠しています。様々な種類のランプおよびその付属品の温度上昇性能試験に適しており、ランプの安全性認証および品質管理における重要な機器として機能します。

規格：

仕様：

ノート：
• その他の寸法は、顧客の要件に応じて設計できます（LISUN 型： TMP-Lバツ）。
• TMP-L ランプキャップ温度上昇試験室 | 風防は、 LISUN TMP-8 多重温度テスター.

試験手順
1. テスト準備
1.1 機器の校正
熱電対を使用して LISUN TMP-8 多重温度テスター 温度センサーとして使用します。ランプキャップ温度上昇試験チャンバーは、規格に規定された要件を満たす必要があります。

1.2 試験サンプルの準備
同じモデルのランプ 3 個 (損傷がなく、初期エージングが完了したもの) を選択し、定格電圧、電力、ランプ キャップ モデル (E14、E27 など) を記録します。

1.3 環境設定
試験室の温度を25℃±5℃（屋内ランプの場合）または40℃±2℃（屋外ランプの場合）に調整し、周囲湿度を≤65% RHに制御します。

2. 試験サンプルの設置と温度測定の配置
2.1 ランプの取り付け
ランプキャップのモデルに合わせて標準ランプホルダーを選択し、低熱伝導率のブラケットに固定します。ランプキャップとランプホルダーの良好な接触を確保するため、実際の使用姿勢でランプをランプホルダーに取り付けます。

2.2 センサーの配置
耐熱テープを使用して、熱電対プローブを取り付けます。 TMP-8 温度データロガーをランプキャップの指定測定面（例：E27ネジ口金の上面）にしっかりと固定します。別の熱電対をランプホルダーから50mm離れた位置（ランプキャップの中心と同じ高さ）に固定し、周囲温度を測定します。

3. テストとデータ収集
3.1 電源投入テスト
ランプに定格電圧の±2%で電力を供給し、通電時間を記録し、5分ごとに温度データを記録します。 TMP-8 最初の 30 分間の温度データ ロガー。

3.2 安定性の判定
ランプキャップの温度が30分間連続して1℃以下の変化を示した場合、温度上昇が安定したと判断されます。ランプキャップ温度（T1）と周囲温度（T2）を記録し、温度上昇ΔT = T1 – T2を計算します。

3.3データストレージ
完全な温度曲線を保存するには、 TMP-8 温度データロガー、テストサンプル情報、テスト環境パラメータ、およびテスト時間をマークします。

4. 結果の判定
4.1 限定的決定
3 つのテスト サンプルすべての温度上昇 ΔT が、ランプ キャップの種類に対応する標準限度以下 (例: E27 ランプ キャップの場合は ≤120K) であり、3 つのサンプル間のデータ偏差が ≤5K である場合、テスト サンプルは合格であると判断されます。

4.2 無条件の決定
1つ以上の試験サンプルの温度上昇が規格値を超える場合、または3つのサンプル間のデータ偏差が5Kを超える場合は、新たに3つの試験サンプルを選定し、再試験を実施します。再試験でも不合格となる場合、試験サンプルは不合格と判定されます。

4.3 レポートの生成
テストデータ、温度曲線、判定結果を整理し、標準要件を満たすテストレポートを生成します。

ランプキャップ温度上昇試験システム - 紹介ビデオ