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01 11月、2022 2543ビュー 著者：ルート

電子機器をテストするためのサージ発生器

何ですか サージテスト?
その サージ（衝撃）耐性試験 自然界における落雷（間接雷）の影響や、電源ラインや通信ラインにおける大規模なスイッチ切り替えによる電圧変化をシミュレートするものです。 の サージテスト 振幅が 1.2kV ～ 50kV の 10 つの波形 (通信波の場合は 700/0.5 μs と 4/10 μs) を規定しており、特に高エネルギーで EUT に破壊的な影響を与える可能性があります。 700/1.2μs（通称通信波）は長距離の対称通信ポートに適しており、50/XNUMXμsは電力線ポートやその他の信号線ポートに適しています。 の SG61000-5 サージ発生器 自然な雷サージの誘導と大容量の負荷スイッチングによって引き起こされる高エネルギー過渡干渉に対する、電源コードとさまざまな機器の内部コネクタの耐性を評価するための共通の基礎を提供します。

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その SG61000-5 全自動 サージ発生器 （雷サージイミュニティ試験、複合波発生器、サージ電流発生器/サージ電圧発生器、複合サージ電圧および電流発生器とも呼ばれます）。 それは完全に満たしています IEC 61000-4-5, EN61000-4-5 (NAIST) と GB / T17626.5 標準。
 
サージの原因は、電源システムのスイッチング トランジェントと雷トランジェントです。 との目的 サージイミュニティテスト サージ（衝撃）を受けたときの電気・電子機器の性能を評価するための共通の基準を確立することです。 標準IEC61000-4-5の一般的な要件によると サージイミュニティテスト, 雷サージ発生器 1.2/50usの電圧波形、8/20usの電流波形、合成波（電圧波形：10/700us、電流波形：5/320us）をシミュレートし、カップリングネットワークを介して波形を被試験回路にカップリングし、実験目的。 実験グレードは、電圧の厳しさによって1、2、3、4、Xグレードに分けられ、XとXはオープングレードです。
電子機器をテストするためのサージ発生器

サージ発生器

過酷クラスの適用範囲は、環境（サージを受ける可能性のある環境）や設置条件によって異なりますが、一般的には以下の条件で分類されます。
レベル 1: 工場や発電所の制御室など、より保護された環境。
レベル 2: 強い干渉のない工場など、特定の保護された環境。
レベル 3: 通常の電磁妨害環境。一般的に設置されているケーブル ネットワーク、産業用作業場、変電所など、機器に対して特別な設置要件は指定されていません。
レベル 4: 民生用架線、保護されていない高圧変電所など、深刻な嫌がらせを受ける環境。
クラスX：ユーザーとメーカーとの協議により決定される特別なクラス。 特定の製品にどのレベルを選択するかは、通常、製品規格によって決定されます。
 
その 雷サージ試験 破壊試験であり、試験対象物の損傷の程度に応じて、次の状況に分けることができます。
a) 製造者、委託者または購入者によって指定された制限内の正常な性能
b) 機能または性能が一時的に失われるか低下するが、妨害が止んだ後、オペレータの介入なしに自然に回復できる。
c) 機能または性能の一時的な損失または低下。ただし、オペレーターの介入による回復。
d) デバイスのハードウェアまたはソフトウェアの損傷、またはデータの損失による回復不能な機能の喪失またはパフォーマンスの低下。
 
信号（通信）インターフェース サージテスト 目的とインデックスの要件:
デバイスの実際の使用中にユーザー回線インターフェイスがサージ電圧の影響を受けた後、テストされたインターフェイスの損傷とデバイスのパフォーマンスの低下を調査します。 インデックス要件: 電話ポートのサージ テストは、タイプ A とタイプ B の XNUMX つのタイプに分けられます。
 
(1) タイプ A (クラス A)
a) 波形。 ディファレンシャルモード干渉：電圧波：10/560、電流波：10/560。 コモンモード干渉：電圧波：10/160、電流波：10/160。
b) テストレベル: 差動モード: 電圧は 800V 未満、電流は 100A 未満です。 コモンモード：電圧が1500V未満、電流が200A未満
c) テスト ポート: ディファレンシャル モード: チップ - リング。 ヒント-1—リング-1; シングル通信用の 4 線式ケーブルの場合、tip-ring-1、ring-tip-1。 共通モード: チップ リングとチップ 1 – リング 1 を接地するか、未認証の機器に接続された他のケーブル (ねじ込み) に接続します。
d) テスト状態: この規格の要件に影響を与える可能性のある機器のすべての状態をテストする必要があります。 通常の電源投入でデバイスのステータスを取得できない場合は、手動で介入する必要があります。 サージのないポート (電話ポート、補助ポート、および認証されていないデバイスに接続されたポートを含む) は、適切に終端され、通常の使用状態にある必要があります。 デバイスの主電源でプラグの抜き差しが可能な場合は、電源コードを接続した状態と電源コードを取り外した状態の両方でデバイスをテストする必要があります。
e) 基準は、安全回路での開回路または接地への短絡を許可しますが、この故障モードでは、ユーザーがデバイスを使用できないこと、またはデバイスに明らかな故障表示 (アラームなど) があることが保証されます。すぐにネットワークから削除する必要があります。 切断されているか、修理が必要です。 安全回路が修復されると、デバイスの性能と機能は正常に戻ります。
 
(2) タイプ B (クラス B)
a) 波形。 差動モード：電圧波：9/720、電流波：5/320 コモンモード：電圧波：9/720、電流波：5/320
b) テストレベル: 差動モード: 電圧は 1000V 未満、電流は 25A 未満です。 コモンモード：電圧が1500V未満、電流が37.5A未満
c) テスト ポート: ディファレンシャル モード: チップ - リング。 ヒント-1—リング-1; シングル通信用の 4 線式ケーブルの場合、tip-ring-1、ring-tip-1。 共通モード: チップ リングとチップ 1 – リング 1 を接地するか、未認証の機器に接続された他のケーブル (ねじ込み) に接続します。
d) テスト状態: この規格の要件に影響を与える可能性のある機器のすべての状態をテストする必要があります。 通常の電源投入でデバイスのステータスを取得できない場合は、手動で介入する必要があります。 サージのないポート (電話ポート、補助ポート、および認証されていないデバイスに接続されたポートを含む) は、適切に終端され、通常の使用状態にある必要があります。 デバイスの主電源でプラグの抜き差しが可能な場合は、電源コードを接続した状態と電源コードを取り外した状態の両方でデバイスをテストする必要があります。
e) Criterion 機器は、タイプ B のサージ エネルギーに耐えることができなければならず、インターフェイス回路の永久的な開回路または短絡回路を引き起こすことはできず、標準要件に影響を与える機器の損傷を引き起こすことはできません。
 
タイプ A: 安全回路では開回路または接地への短絡が許容されますが、この障害モードでは、ユーザーが機器を使用できないことが保証されるか、または機器に明確な障害の兆候 (アラームなど) が表示されます。 ）。 この場合、ユーザーは修理のためにデバイスをネットワークからすぐに切断する必要があります。 保護回路を修復した後、機器の性能と機能は正常に戻りました。

タイプ B: 認定された端末機器と保護回路は、タイプ B のサージ エネルギーに耐えることができなければならず、インターフェイス回路の永久的な開回路または短絡回路を引き起こすことはできず、この規格の要件に影響を与える機器への損傷を引き起こすことはできません。

Lisun InstrumentsLimitedはによって発見されました LISUN GROUP 2003インチ LISUN 品質システムは ISO9001:2015 によって厳密に認証されています。 CIE会員として、 LISUN 製品は、CIE、IEC、およびその他の国際規格または国内規格に基づいて設計されています。 すべての製品はCE証明書に合格し、サードパーティのラボによって認証されました。

主な製品は ゴニオフォトメーター, 積分球, 分光放射計, サージジェネレータ, ESDシミュレーターガン, EMIレシーバー, EMC試験装置, 電気安全テスター, 環境室, 温度室, 気候チャンバー, サーマルチャンバー, 塩水噴霧試験, ダストテストチャンバー, 防水試験, RoHSテスト（EDXRF）, グローワイヤーテスト (NAIST) と ニードルフレームテスト.

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