LED 照明 EFT イミュニティ測定の方法と原理 IEC 61000-4-4

するとき IEC 61000-4-4 EFT耐性テスト、L1、L2、L3、N、およびPEインターフェイスがあります。 PEと地球はXNUMXつの異なる概念です。 標準の実験セットアップ図では、電気的高速パルス干渉が共通モードです、テストジェネレーターからの信号ケーブルは、選択可能な結合コンデンサを介して対応する電力線（L1、L2、L3、N、およびPE）に接続でき、信号ケーブルシールドは、 結合/分離ネットワーク、シャーシは基準接地端子に接続されています。

これは、バースト干渉が実際に電力線と基準アースの間に適用されることを示しているため、電力線に追加される干渉はコモンモード干渉であり、結合フォルダーを使用する実験方法では、電気高速パルスが追加されます結合プレートとテスト済みケーブルの間にある分布容量を介したテスト済みケーブル。 ただし、テストされたケーブルが受信したパルスは、まだ基準グランドプレーンに相対的です。

したがって、テストされたケーブルに結合クランプによって加えられる干渉は、依然としてコモンモードです。 干渉の性質を確認した後、適切な措置を講じて、機器がテストに合格するようにすることができます。 したがって、パワーフィルターで使用されるXコンデンサー（差動モードコンデンサー）はEFT干渉を抑制できません。

デバイスに金属シェルが含まれている場合、Yコンデンサ（コモンモードキャパシタンス）が機能します。 高周波EFTをシェルにバイパスし、デバイスシェルと基準グランドの間にある分布容量を介して信号源に戻り、回路に入らないようにすることができます。

外国の学者の研究によれば、電気的高速パルス干渉のメカニズムは機器の故障を引き起こし、単一パルスエネルギーは小さく、機器の誤動作を引き起こしません。 ただし、バーストの干渉信号は、装置のラインジャンクションキャパシタンスを充電し、上記のエネルギーがある程度蓄積すると、電力線（およびシステム）の誤動作を引き起こす可能性があります。

したがって、ラインエラーの時間プロセスが発生し、何らかの機会があります（特に、テストされた電圧がクリティカルポイントに達した場合、エラーの時間間隔を保証できません）。 また、単一のパルスを個別に適用したり、パルスグループを一緒に適用したりすると、デバイスが故障する可能性が高いかどうかを判断することは困難です。 そして、デバイスが正パルスまたは負パルスに対してより敏感であるかどうかを言うのは難しいです。

ある種のテストされた電圧の下では、通常、XNUMXつのデバイスが電源ケーブルの極性に特に敏感であることを示しています。 実験では、電気的な高速パルス干渉に対して、信号線が電力線よりもはるかに敏感であることを示しています。

電気高速パルス試験に合格した機器に対する効果的な対策。 まず、干渉注入の方法を分析します：EFT干渉信号は、デカップリングネットワークの33nFキャパシタンスを結合することにより、主電力線に結合します（信号または制御ケーブルは、容量結合クランプを介して干渉を適用し、等価キャパシタンスは100pFです）。 33nFの静電容量の場合、カットオフ周波数は100Kです。つまり、

100KHZを超える干渉信号は通過できます。 しかし、100pFの静電容量の場合、カットオフ周波数は30Mであり、30MHzを超える周波数の干渉のみが通過します。 電気高速パルスの干渉波形は5ns / 50ns、繰り返し周波数は5K、パルス持続時間は15ms、バースト繰り返し周期は300msです。 フーリエ変換によれば、そのスペクトルは5K〜100Mの離散スペクトル線であり、各スペクトル線間の距離はパルス繰り返し周波数です。

上記の後、干渉を適用する結合容量がハイパスフィルターの役割を果たしていることがわかります。これは、周波数が高くなると容量のインピーダンスが低下するため、干渉の低周波数はEUT、より高い周波数の干渉信号のみがEUTに入ります。 EUT回路にコモンモードインダクタンスを追加する場合（特に注意して、コモンモードインダクタンスをメイン電源ラインとそのリターンラインに追加する必要があります。追加しないと、飽和に達し、干渉を減衰させる目的に到達できません）、周波数が増加すると容量のインピーダンスが増加するため、高周波干渉の一部が減衰します。 したがって、実際にEUTに適用された干渉信号は、中間周波数のみを残しました。

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