バルク電流注入（BCI）テストシステム

TDK SensEI edgeRX™ の優位性 LSBCI-40 バルク電流注入（BCI）試験システムは、 LISUN 特に自動車エレクトロニクス、鉄道輸送、産業用制御分野向けに設計されています。この機能は、複雑な電磁環境下における電子機器が受ける無線周波数（RF）干渉をシミュレートします。指定されたRF電流を被試験デバイス（DUT）のケーブルバンドルに注入することで、RF干渉下におけるデバイスの動作安定性を評価し、電磁両立性の問題によって引き起こされる機能異常（信号歪みや制御障害など）を事前に特定します。これにより、国際的なEMC認証取得に必要な製品試験をサポートします。

規格：

システム構成と技術的パラメータ:

パート1: テスト手順:
A. テストの前に、電流注入プローブによって生成された妨害電流が校正器具の要件を満たしていることを確認し、電流プローブをテストするハーネスの指定された位置にクランプします。
B. キャリブレーションで得られた前進電力に基づいてハーネスに干渉を加える。試験中は電流強度は監視されず、前進電力は調整されなくなる。
C. ハーネスの長さと電流注入プローブと試験対象ハーネス間の相対距離は、試験対象ハーネス上の妨害電磁場の結合度に影響する。

パート2: テスト結果の決定: オープンループ方式は主に 5 つのレベルに分かれており、各レベルは異なるテスト結果を表します。
A. EUT の機能または性能は異常なく正常でした。
B. すべての機能または性能が干渉状態にあり、1 つ以上の機能/性能が規定の許容範囲から外れているが、干渉が除去された後、すべての機能または性能が規定の許容限界に復元され、保存されたデータに異常がない。
C. 1 つ以上の機能/性能が失われますが、干渉が適用された後、EUT は自動的に通常モードに回復します。
D. 1 つ以上の機能/性能が失われますが、干渉が適用された後、人間の介入によって通常モードに復元されます。
E. 1 つ以上の機能/性能が失われますが、干渉が適用された後、通常モードに戻すことはできません。

パート3: 試験システムのレイアウト(ISO 11452-4図2、図1、図3を参照):
1. 基準接地面：基準接地面は厚さ0.5mm以上の金属板、できれば真鍮を使用します。テストベンチと基準接地面の長さと幅は少な​​くとも1700×1000mmです。接地材料のインピーダンスは2.5ミリオーム以下、間隔は300mm以下です。
2. 人工電力ネットワーク: 遠隔接地の場合は 2 つの人工電力ネットワークが必要であり、近端接地の場合は 1 つの人工電力ネットワーク (正極に接続) のみが必要です。
3. EUT の配置: 試験対象製品は、誘電率が低い (1.4 以下) で厚さ 50 (±5) mm の絶縁材の上に置く必要があります。試験ハーネス EUT と模擬負荷ハーネスの全長は 1000 (±100) mm で、試験ハーネスは誘電率が低い (1.4 以下) で厚さ 50 (±5) mm の絶縁材の上に置く必要があります。
4. 高電流注入プローブ：注入プローブとEUT間の距離dは次のとおりです。
d=(150±10)mm
d=(450±10)mm
d=(750±10)mm

ISO 11452-4:2020 図2

パート4: テストレポートのサンプル:

LSBCI-40 Rescale データ

LSBCI-40 オープンループテスト

LSBCI-40 クローズドループテスト