LEDは長寿命という特徴がありますが、使用条件や駆動電流により寿命は異なりますが、一般的には約50万時間程度です。 従来の光源とは異なり、LED 光は瞬時に消えるのではなく、徐々に減衰します。 標準IESによると、LM-80、IES-LM-82、および TM-21、テストサイクルの要件は一般に 6000 時間であり、L70、L50 などの概念が導入されました。つまり、L70 (時間): 70% ルーメン維持までの時間。 L50 (時間): 50% ルーメン維持までの時間。
しかし、今日のLED市場の価格競争はますます激しくなっており、このような時間のかかるテストプロセスに対するLEDアプリケーションプラントの要件を満たすことはできません。 次に、可能な限り短い時間でLEDの性能を判断する方法を検討します。 LED粒子を選択するための低コストで高速かつ効果的な方法を探求します。 LEDの主な原材料は、包装用接着剤、金糸、チップ、固体結晶プラスチック、ホルダーです。 各材料は、LEDの性能に直接影響します。 通常、次のXNUMXつの手順を使用してテストします。
1) さまざまなパラメータ、チップサイズなどのデータを含む、LED 粒子の初期測光パラメータと電気パラメータをテストします。 この部品のテストには、次のことをお勧めします。 Lisun LPCE-2(LMS-9000) 統合球体分光放射計 LED テスト システム。単一 LED および LED ランプの性能を識別します。 CIE127-1997 によると、 IES LM-79-08と IES LM-80-08、アレイ分光放射計を使用することをお勧めします。 積分球 SSL 製品をテストします。 の LPCE-2(LMS-9000A) は、条件を満たす光束 VS 時間、CCT VS 時間、CRI VS 時間、パワー VS 時間などの LED 光学メンテナンステストも行うことができます。 LM-80。 LEDランプのCCT、CRI、スペクトル、ルーメン、ルーメン効率、電力、力率、電流、電圧などをテストできます。 LM-79.
2)室温および定格電流の1.5倍で急速に老化します。 5個のサンプルを採取(条件が許す場合はさらに多くのpcを採取)、室温(25℃)および定格電流1.5倍(225mA)で急速にエージングし、0時間、48時間、96時間、168時間で測光および電気パラメータのXNUMX段階をテストし、フラックスの変化量に従って各ノードの減衰比を計算し、LED粒子の寿命曲線をシミュレートします。これは以下のように表示されます。
3)85℃、公称電流で急速に老化します。 5個のサンプルを採取(条件が許す場合はさらに多くのpcを採取)、85℃および公称電流(15 mA)で急速にエージング、0時間、48時間、96時間、168時間でXNUMX段階の測光および電気パラメーターをテストし、それぞれの減衰比を計算フラックスの変化量に応じたノード、および以下に示すLED粒子の寿命曲線をシミュレートします。
上記の議論により、LEDアプリケーションプラントに適した高速選択LED方法を結論付けることができます。 パッケージング工場から多くのLEDサンプルを入手した後、最初にLEDを分解してLEDチップサイズを測定できます。 一般に、チップのサイズが大きいほど、ESD対策の能力が大きくなり、大電流対策能力が高くなります。 第二に、室温および1.5倍(または85倍)で急速に老化し、その後0℃および公称電流で老化します。 次に、48時間、96時間、168時間、XNUMX時間での各ノードの磁束減衰比に従って推定寿命を引き出します。 異なるメーカーのLED光束維持率能力を比較して、それらの賛否を判断します。 そして最後に、異なるメーカーのLED単価を評価することにより、最短時間で最も費用効果の高いLED粒子を選択することができます。
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