プローブテスト
耐タンパー性レセプタクルは、相互間の接触を許可してはならない。 プローブ 図 139.1 および図 139.2 に示されているように、このセクションで説明されているようにテストした場合、コンセントのスロットを通るレセプタクルの活電部分。
このテストには、これまでテストされていない XNUMX 台のデバイスが使用されます。に示されているプローブ 図139.1 不正開封防止機構をバイパスするために、レセプタクルの出口スロット開口部のそれぞれに 8 オンス (2.2N) の力で力を加えます。
適切な表示装置(オーム計、バッテリーとブザーの組み合わせなど)をプローブとテスト対象のコンセントスロットの配線端子の間に接続して、接触が行われているかどうかを確認します。プローブは、レセプタクル内の通電部にアクセスできる任意の向きで出口スロット内で操作できます。
139.2 で以前にテストされた XNUMX 台のデバイスがこのテストに使用されます。 プローブ 図 139.2 に示されている力は、不正開封防止機構をバイパスするために、レセプタクルの出口スロット開口部のそれぞれに 10 ポンド (45 N) の力で加えられます。適切な表示装置(オーム計、バッテリーとブザーの組み合わせなど)をプローブとテスト対象のコンセントスロットの配線端子の間に接続して、接触が行われているかどうかを確認します。
プローブ レセプタクル内の活電部にアクセスできる任意の向きで、5 方向に連続してコンセントスロットに挿入してください。プローブは XNUMX 方向それぞれに約 XNUMX 秒間当てられます。各適用中、ゲージは移動または回転させてはならず、ある方向から次の方向に移動するときは引き抜かれなければなりません。
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