IEC 62109-1 のストレートな非接合テストフィンガー 図 D.3

直接接触に対する保護

直接接触に対する保護は、7.3.5 の要件を満たさない充電部に触れないようにするために採用されており、7.3.4.2 (筐体および障壁) および 7.3.4.3 (絶縁) に規定されている対策の XNUMX つ以上によって提供されなければなりません。 ）。

オープンタイプのサブアセンブリおよびデバイスには、直接接触に対する保護措置は必要ありませんが、機器に付属の説明書には、そのような措置を最終機器または設置時に提供する必要があることが示されています。

閉鎖された電気動作領域に設置することを目的とした製品 (3.9 を参照) は、7.3.4.2.4 で要求される場合を除き、直接接触に対する保護措置を講じる必要はありません。

注意  一部の地域の規制では、たとえ閉鎖された電気動作領域であっても、危険な部品との不用意な接触を防ぐことが求められています。

囲いや障壁による保護
次の要件は、7.3.4.3 に従って絶縁ではなく、エンクロージャまたはバリアによって充電部との接触に対する保護が提供される場合に適用されます。

これらの要件に従って保護を提供するエンクロージャおよびバリアの部品は、工具を使用せずに取り外しできないものとする(7.3.4.2.3 を参照)。

これらの要件を満たすために使用されるポリマー材料は、13.6 の要件も満たさなければなりません。

アクセスプローブ基準
保護は、それらの間の分離時に達成されたとみなされます。 テストプローブ 充電部分は、以下に説明するようにテストすると次のようになります。
a) 決定的な電圧分類 A、(DVC A) – プローブが充電部分に接触する可能性があります。
b) 決定的な電圧分類 B、(DVC B) - プローブは、機能絶縁のためのクリアランスに基づいて、充電部分に対して適切なクリアランスを持たなければなりません (注 1 を参照)。
c) 決定的な電圧分類 C、(DVC C) – プローブは、基礎絶縁の間隔に基づいて、充電部分に対して適切な間隔を持たなければなりません (注 2 を参照)。

注 1 機能絶縁は許容されます。 指 開口部への侵入は最初の故障とみなされます。
注 2 開口部への指の挿入は第一の欠陥であると考えられるため、基礎絶縁は許可されています。
注 3図 5 の行 4 に、エンクロージャの開口部に対するプローブ要件の例を示します。

アクセスプローブテスト
7.3.4.2.1 への準拠は、次のすべてによってチェックされます。
a) 検査。 そして
b) 付属書 D のテストフィンガー (図 D.1) およびテストピン (図 D.2) を使用したテスト。その結果は 7.3.4.2.1 a)、b)、および c) の要件に適合するものとする。該当します。 テストプローブ 作業は、オペレータが工具を使用せずに取り外したり開けたりできる部品 (ヒューズホルダなど) を取り外した後、オペレータ アクセス ドアとカバーを開いた状態で、エンクロージャの開口部に対して実行されます。 このテストではランプを所定の位置に置いたままにすることが許可されています。 オペレータが工具を使用せずに分離できるコネクタも、切断中および切断後にテストする必要があります。 可動部品はすべて最も不利な位置に配置する必要があります。 テストフィンガーとテストピンは、質量が 40 kg を超える床置き装置を傾けないことを除いて、感知できるほどの力を加えずに、可能な限りあらゆる位置に上記のように適用されます。

組み込みまたはラックマウント、または大型の機器への組み込みを目的とした機器は、設置説明書に詳細に記載されている取り付け方法に従って、機器へのアクセスが制限されてテストされます。

c) 上記 b) の試験中に、接合されたテストフィンガの進入を防止する開口部 (附属書 D の図 D.1) は、直線を使用してさらに試験されます。 関節のないテスト指 (図D.3 関節のない指が入った場合は、30 N までの必要な力を加えて指を加える以外は、関節のある指を使った試験が繰り返されます。

d) 上記の a) から c) に加えて、エンクロージャの上面は、IEC 3 の IP60529X プローブを使用してテストするものとします。テスト プローブは、垂直方向 ±5° からのみプローブした場合、エンクロージャの上面を貫通してはならない。

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